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HOSMER, David W.
Applied logistic regression
/ David W. Hosmer, [co-aut.] Stanley Lemeshow. - 2nd ed. -
New York
:
John Wiley and Sons
,
2000
. - XII, 275, [8] p. ; 25 cm. - (
Wiley series in probability and statistics
)
Fundo documental Saúde Pública e Internacional e Bioestatística.
ISBN 0-471-35632-8 (encadernado)
Estatística
/
Probabilidades
/
Logistica
CDU:
31
COTA:
48 STAT
IHMT
728/2011
Tipo de documento:
Texto impresso
País de publicação:
Estados Unidos
Outro(s) autor(es):
LEMESHOW, Stanley, co-aut.
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